你的位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 光學(xué)類儀器 >
產(chǎn)品展示-
- 線寬檢測(cè)儀
線寬檢測(cè)儀主要應(yīng)用于檢測(cè)印刷電路板內(nèi)、外層半成品經(jīng)顯影蝕刻后（上綠油前）線路的上幅及下幅寬度及面積、角度、圓直徑、圓心距等?？蓴U(kuò)展應(yīng)用于IC晶片線寬線距測(cè)量，film寬度測(cè)量，LCD線路板測(cè)量等顯微測(cè)量場(chǎng)合。
- 型號(hào)：XG-EV900
- 更新日期：2024-08-02 ￥面議
-
- XG-EV900PCB線徑測(cè)量?jī)x
XG-EV900PCB線徑測(cè)量?jī)x PCB線徑測(cè)量?jī)x主要應(yīng)用于檢測(cè)PCB印刷電路板內(nèi)、外層半成品經(jīng)顯影蝕刻后（上綠油前）線路的上幅及下幅寬度及面積、角度、圓直徑、圓心距等?？蓴U(kuò)展應(yīng)用于IC晶片線寬線距測(cè)量，film寬度測(cè)量，LCD線路板測(cè)量等顯微測(cè)量場(chǎng)合。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2024-08-02 ￥面議
-
- PCB線徑測(cè)量?jī)x
PCB線徑測(cè)量?jī)x主要應(yīng)用于檢測(cè)PCB印刷電路板內(nèi)、外層半成品經(jīng)顯影蝕刻后(上綠油前)線路的上幅及下幅寬度及面積、角度、圓直徑、圓心距等。可擴(kuò)展應(yīng)用于IC晶片線寬線距測(cè)量，film寬度測(cè)量，LCD線路板測(cè)量等顯微測(cè)量場(chǎng)合。
- 型號(hào)：XG-EV900
- 更新日期：2024-08-02 ￥面議
-
- 線寬線距測(cè)量?jī)x
線寬線距測(cè)量?jī)x主要應(yīng)用于檢測(cè)印刷電路板內(nèi)、外層半成品經(jīng)顯影蝕刻后(上綠油前)線路的上幅及下幅寬度及面積、角度、圓直徑、圓心距等?？蓴U(kuò)展應(yīng)用于IC晶片線寬線距測(cè)量，film寬度測(cè)量，LCD線路板測(cè)量等顯微測(cè)量場(chǎng)合。
- 型號(hào)：XG-EV900
- 更新日期：2024-08-02 ￥面議
-
- 線寬測(cè)量?jī)x
線寬測(cè)量?jī)x主要應(yīng)用于檢測(cè)印刷電路板內(nèi)、外層半成品經(jīng)顯影蝕刻后(上綠油前)線路的上幅及下幅寬度及面積、角度、圓直徑、圓心距等?？蓴U(kuò)展應(yīng)用于IC晶片線寬線距測(cè)量，film寬度測(cè)量，LCD線路板測(cè)量等顯微測(cè)量場(chǎng)合。
- 型號(hào)：XG-EV900
- 更新日期：2024-08-02 ￥面議
-
- 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀
自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀是基于光學(xué)原理對(duì)各類PCB板、IC封裝等產(chǎn)品在生產(chǎn)過(guò)程中產(chǎn)生的不同帖裝錯(cuò)誤及焊接缺陷進(jìn)行檢測(cè)。通過(guò)攝像頭自動(dòng)掃描產(chǎn)品，采集圖像，測(cè)試焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫(kù)中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較，經(jīng)過(guò)圖像處理，檢查出產(chǎn)品上的缺陷，并通過(guò)顯示器或自動(dòng)標(biāo)志把缺陷顯示、標(biāo)示出來(lái)，供篩選。并可提供在線檢測(cè)方案，以提高生產(chǎn)效率，及焊接質(zhì)量。
- 型號(hào)：XG-AOI
- 更新日期：2024-08-01 ￥面議
